顆粒圖像分析儀的原理及適用領(lǐng)域
點擊次數(shù)：3305 發(fā)布時間：2018-05-04
顆粒圖像分析儀將是一種將現(xiàn)代電子技術(shù)與光學(xué)顯微鏡相結(jié)合而成的一種粉體顆粒物性檢測儀器。用電子攝像機(jī)拍攝經(jīng)顯微鏡放大的顆粒圖像。圖像信號輸入計算機(jī)后，計算機(jī)自動進(jìn)行對顆粒進(jìn)行形貌特征和粒度進(jìn)行分析，zui后給出測試報告。
顆粒圖像分析儀的基本原理是：
顆粒圖像分析儀的基本原理是：
光學(xué)顯微鏡首先將待測的微小顆粒放大，并成像在CCD攝像機(jī)的光敏面上；攝像機(jī)將光學(xué)圖像轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖片信息，然后傳輸并存儲在計算機(jī)系統(tǒng)里。
計算機(jī)對接收到的數(shù)字化了的顯微圖像信息進(jìn)行二值化處理，識別顆粒的輪廓。然后按照一定的等效模式，計算各個顆粒的粒徑、圓度等物理參數(shù)。一般而言，一幅圖像（即圖像儀的一個視場）包含幾個到上百個不等的顆粒。
圖像儀能自動計算視場內(nèi)所有的顆粒的粒徑，并統(tǒng)計，形成粒度報告、圓度報告等。當(dāng)已經(jīng)測到的顆粒數(shù)不夠多時，可以通過調(diào)整顯微鏡的載物臺，換到下一個視場，繼續(xù)測試并累計。
PIP8.1型顆粒圖像分析儀可獨立測定粉體/乳液顆粒粒度分布，亦可用于其他粒度測試方法的輔助判斷分析，是我國現(xiàn)行金剛石微粉粒度測量標(biāo)準(zhǔn)的推薦儀器。PIP8.1型顆粒圖像處理儀適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學(xué)試劑、填料等各種粉末顆粒的粒度測量、形貌觀察和分析，能給出不同等效原理（如等面積圓、等效短徑等）的粒度分布，能直接觀察顆粒分散狀況、粉體樣品的大致粒度范圍、是否存在低含量的大顆?；蛐☆w粒情況等等。
